Test equipment

Test equipment

Industry: Semiconductors

Додати новий термін

Contributors in Test equipment

Become a Contributors

Test equipment

друковані електропроводки ради (PWB)

Semiconductors; Test equipment

Частина виготовлений з жорсткою бази матеріалу, на яких повністю оброблені друкованих електропроводки, сформовано. ...

широтно імпульсна модуляція (ШІМ)

Semiconductors; Test equipment

Часто використовуються в цифрових аудіо-систем. , Як випливає з її назви, це поширюється на форми хвиль пульс тільки. З ШІМ модуляції сигналу викликає активних широтно-імпульсної (цикл, пояснювалося ...

Розширення PCI для контрольно-вимірювальні прилади (PXI)

Semiconductors; Test equipment

Міцний ПК на базі платформи для вимірювання та автоматизації систем. PXI поєднує в собі електромонтаж шини PCI рис з міцний, модульний, Eurocard упаковка CompactPCI а потім додає спеціалізованих ...

Нерухома точки

Semiconductors; Test equipment

(Q точки) - A вказують на лінії постійного струму навантаження даного підсилювача, який представляє на нерухома (немає сигналу) значення вихідна напруга і струм для ...

якість фактор (Q)

Semiconductors; Test equipment

Для СМУГОВИХ та гурт ВІДХИЛИТИ фільтри Q = Fo/BW. Примітка що Fo ГЕОМЕТРИЧНУ центр і BW ШИРИНИ групу.

Verilog змінити дамп (VCD)

Semiconductors; Test equipment

Вихід з Verilog використовується для генерації візерунок. Зазвичай цьому виводі має бути переведені на формат, який можна прочитати за тестер. Цей процес перекладу зазвичай здійснюється декілька ...

вафельні рівня горить в (WLBI)

Semiconductors; Test equipment

Вафельні рівень горіти в є виробництво техніки де певного продукту спалюється в як повний вафель скористатися масивні паралелізм і вище температури прискорення ...